'/%3E%3C/svg%3E)
Descrizione generale
Il Misurare Rivestimenti Strumento Leptoskop è un dispositivo di alta precisione progettato per misurare lo spessore di rivestimenti non magnetici su substrati magnetizzabili e rivestimenti non conduttivi su materiali conduttivi. Questo strumento è conforme agli standard DIN EN ISO 2178 e DIN EN ISO 2360, ed è dotato di un telaio in gomma antiscivolo e di uno schermo retroilluminato con grandi cifre per una facile lettura. La gamma di misura va da 0 a 5000 µm, con la possibilità di visualizzare i risultati in diverse unità: µm, mm, mils e pollici.Specifiche tecniche
- Spessore di strato < 100 µm: 1 % della misura ± 1 µm
- Spessore di strato > 100 µm: 1...3 % della misura ± 1 µm
- Spessore di strato > 1000 µm: 3...5 % della misura ± 10 µm
- Spessore di strato > 10000 µm: 5 % della misura ± 100 µm
'/%3E%3C/svg%3E)
'/%3E%3C/svg%3E){kind=small}